












測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度

新聞資訊
News時間:06-30 2023 來自:祥宇精密
在現代制造業中,表面粗糙度和形狀的準確測量對于產品質量控制至關重要。測長儀設備是一種常用的工具,可以幫助我們實現這一目標。測長儀設備通過接觸或非接觸方式,對物體表面進行掃描和測量,從而獲取表面粗糙度和形狀信息。本文將介紹測長儀設備的原理和操作方法,并探討其在工業領域的應用。
1. 表面粗糙度測量
表面粗糙度是指物體表面微小不規則度的特征,通常通過Ra值來表示。測長儀設備可以利用不同的傳感器和掃描技術對表面進行測量,并生成數值化的粗糙度參數。常見的測量方法包括激光干涉法、白光干涉法和電容式傳感器等。其中,激光干涉法利用激光束與被測表面反射產生的干涉圖案,通過分析干涉圖案的變化來計算表面的粗糙度。白光干涉法則利用不同波長的光在表面產生干涉條紋,通過分析干涉條紋的形態來得出粗糙度參數。

2. 形狀測量
除了表面粗糙度,測長儀設備還可以用于物體形狀的測量。形狀測量通常需要使用三維測量技術,以獲取物體的高度、寬度和深度等參數。常見的形狀測量方法包括激光三角法、結構光掃描和投影儀等。其中,激光三角法通過測量激光束與物體表面的反射角度來計算物體的高度和深度。結構光掃描則利用投射特殊編碼的光斑,通過相機對光斑的變形進行觀察和分析,從而得到物體的三維形狀信息。
3. 操作方法
使用測長儀設備進行表面粗糙度和形狀測量需要注意以下幾點:
- 選擇合適的傳感器和掃描技術,根據被測對象的特點和測量要求進行選擇。
- 對被測對象進行準備,清潔表面,并確保被測對象的固定與穩定。
- 進行校準,確保測長儀設備的精度和準確性。
- 使用合適的測量參數,根據具體要求設置測量范圍、分辨率等參數。
- 進行測量操作,按照設備操作手冊或指導進行掃描和數據采集。
- 分析和處理測量結果,生成表面粗糙度和形狀的數值化參數。
- 進行結果驗證和評估,與標準規范進行比對,并進行必要的調整和修正。
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